應用領域：

• 電子*：檢測集成電路芯片、印刷電路板的缺陷。超聲掃描顯微鏡SAM、高頻C掃等。

• 材料研究：評估微小材料的結構完整性，如復合材料中的微小裂紋?？蓱糜跍y量材料的聲學特性，如聲速、衰減等，包括材料晶粒度的評估等。

• 精密機械：檢測精密零部件的表面和內部缺陷。

• 探頭測試：可應用于高頻超聲波探頭的聲學特性的評價以及性能指標的測試。

• 聲學*：探究高頻超聲在不同介質中的傳播特性。

應用案例：

•  厚度測量

采用CTS-8072PR+高頻脈沖發(fā)射接收儀，配合我司研發(fā)的50MHz高頻探頭，可實現*薄0.08mm塞尺的厚度測量，測量結果準確，波形清晰，波形僅1個周期。