價(jià)格
電議
型號(hào)
CS310H
品牌
所在地
上海市 閔行區(qū)
更新時(shí)間
2024-01-19 07:22:01
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核心參數(shù)
產(chǎn)品介紹
儀器簡(jiǎn)介:
CS系列電化學(xué)工作站由高速M(fèi)CU、高精度FET集成電路組成,內(nèi)置DDS數(shù)字信號(hào)合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能完成線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)、階梯波循環(huán)伏安(SCV)、方波循環(huán)伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)和常規(guī)脈沖伏安(NPV)以及差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV)等電分析方法;還可以完成恒電流(位)極化、動(dòng)電位(流)掃描、任意恒電流(位)方波,多恒電流(位)階躍、零電阻電流計(jì)、電化學(xué)噪聲(電偶電流)、電化學(xué)阻抗(EIS)等電化學(xué)測(cè)試等功能,所有測(cè)量功能均可定時(shí)自動(dòng)進(jìn)行,用于無人值守下的自動(dòng)測(cè)量。
CS系列包括多種型號(hào),可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測(cè)量和應(yīng)用,例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±2A,槽壓為±21V。電壓控制范圍:±10V;電流控制范圍:±2.0A;電流測(cè)量下限為1pA。
CS studio測(cè)試軟件是CS電化學(xué)工作站的控制平臺(tái),軟件基于Windows98/ 2000/ XP/win7/8/10操作系統(tǒng),并遵守Windows軟件設(shè)計(jì)規(guī)則,易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面,命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語保持一致,全中文菜單和界面,方便用戶的教學(xué)和科研工作。
CS studio測(cè)試軟件還具有特別針對(duì)材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法,包括鈍化曲線自動(dòng)或人工反掃,電化學(xué)再活化法,溶液電阻(IR降)測(cè)量和補(bǔ)償法。CS Studio分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能,可對(duì)伏安曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算,能對(duì)極化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析,包括極化電阻Rp,Tafel斜率ba,bc,腐蝕電流密度icorr,腐蝕速率計(jì)算等,還可計(jì)算噪聲電阻Rn和功率譜,并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學(xué)工作站全部采用USB2.0接口與計(jì)算機(jī)通訊,設(shè)備安裝簡(jiǎn)單,即插即用。
外形尺寸:36.5cm(寬)×30.5cm(深)×16cm(高) 儀器重量:6.5Kg
應(yīng)用領(lǐng)域
1)研究電化學(xué)機(jī)理;物質(zhì)的定性定量分析;
2)常規(guī)電化學(xué)測(cè)試,包括電合成、電鍍和電池性能評(píng)價(jià);
3)功能材料和能源材料的機(jī)理和制備研究;
4)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率快速評(píng)價(jià)以及氫滲測(cè)試等;
5)金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)(包括水/混凝土等環(huán)境)中的腐蝕電化學(xué)測(cè)試。
系統(tǒng)配置
每套工作站包括:
1) 儀器主機(jī)1臺(tái);
2) CS studio測(cè)試與分析軟件1套;
3) 鉑金電極、參比電極、工作電極及電解池各1支(套);
4) 模擬電解池1個(gè);
5)USB數(shù)據(jù)線1條;
6) 電極電纜線/噪聲測(cè)量電纜線1組;
7)電極架(選配*)
8)屏蔽箱(選配*)
技術(shù)參數(shù):
1、硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位儀電位控制范圍:±10V
電流控制范圍:±2.0A
電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV
電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)
電位分辨率:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)
電流分辨率:1pA
電位上升時(shí)間:<1μS(<10mA),<10μS(<2A)
輔助數(shù)據(jù)采集24位@100Hz,20bit@1KHz
參比電極輸入阻抗:1012歐姆||20pF
電流量程: 2nA~2A, 共10檔
槽壓:±21V
CV 和LSV掃描速度:0.001mV~10,000V/s
CA和CC脈沖寬度:0.0001~1000s
電位掃描時(shí)電位增量:0.1mV@1V/mS
SWV頻率:0.001~100KHz
DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s
AD數(shù)據(jù)采集:16位@1MHz,20bit @1kHz
CV的小電位增量:0.075mV
電位和電流測(cè)量低通濾波器
電流與電位量程:自動(dòng)設(shè)置
接口通訊模式:USB2.0
2、電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器
頻率響應(yīng):10μHz~1MHz
交流信號(hào)幅值:1mV~2500mV
直流偏壓:-10~+10V
DDS輸出阻抗:50歐姆
波形:正弦波,三角波,方波
正弦波失真:<1%
掃描方式:對(duì)數(shù)/線性,增加/下降
大負(fù)載電容:1nF;大負(fù)載電感:10μH
信號(hào)分析器
積分時(shí)間:小值:10mS 或者一個(gè)循環(huán)的長(zhǎng)時(shí)間
大值:106個(gè)循環(huán)或者105S
測(cè)量時(shí)間延遲:0~105秒
直流偏置補(bǔ)償
電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍:-10V~+10V
電流補(bǔ)償范圍:-1A~+1A
帶寬調(diào)整(Bandwidth):自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置,共8級(jí)可調(diào)
CS Studio測(cè)量與控制軟件主要功能
功能方法
CS120H
CS150H
CS300H
CS310H
CS350H
穩(wěn)態(tài)極化
開路電位測(cè)量(OCP)
恒電位極化(i-t曲線)
恒電流極化
動(dòng)電位掃描(TAFEL曲線)
動(dòng)電流掃描(DGP)
暫態(tài)極化
任意恒電位階梯波
任意恒電流階梯波
恒電位階躍(VSTEP)
恒電流階躍(ISTEP)
計(jì)時(shí)分析
計(jì)時(shí)電位法(CP)
計(jì)時(shí)電流法(CA)
計(jì)時(shí)電量法(CC)
伏安分析
線性掃描伏安法(LSV)#
線性循環(huán)伏安法(CV)
階梯循環(huán)伏安法(SCV)#
方波伏安法(SWV)#
差分脈沖伏安法(DPV)#
常規(guī)脈沖伏安法(NPV)#
常規(guī)差分脈沖伏安法(DNPV)#
差分脈沖電流檢測(cè)法(DPA)
雙差分脈沖電流檢測(cè)法(DDPA)
三脈沖電流檢測(cè)法(TPA)
積分脈沖電流檢測(cè)法(IPAD)
交流伏安法(ACV)#
二次諧波交流伏安(SHACV)
傅立葉變換交流伏安(FTACV)
交流阻抗
電化學(xué)阻抗(EIS)~頻率掃描
電化學(xué)阻抗(EIS)~時(shí)間掃描
電化學(xué)阻抗(EIS)~電位掃描
腐蝕測(cè)量
循環(huán)極化曲線(CPP)
線性極化曲線(LPR)
動(dòng)電位再活化法(EPR)
電化學(xué)噪聲(EN)
電偶腐蝕測(cè)量(ZRA)
氫擴(kuò)散測(cè)試(HDT)*
電池測(cè)量
電池充放電測(cè)試
恒電流充放電
光電測(cè)量
電致調(diào)光測(cè)量*
光譜儀測(cè)量*
擴(kuò)展測(cè)量
盤環(huán)電極測(cè)試*
數(shù)字記錄儀
注:*氫擴(kuò)散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測(cè)試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350雙恒電位儀。
*光電測(cè)量功能用戶選配。
伏安分析中帶#號(hào)的方法包括相應(yīng)的溶出伏安方法。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保