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德國OPTRIS歐普士 緊湊型工業(yè)短波紅外熱像儀 Xi1M 14°x10°
德國OPTRIS歐普士 緊湊型工業(yè)短波紅外熱像儀 Xi1M 14°x10°
德國OPTRIS歐普士 緊湊型工業(yè)短波紅外熱像儀 Xi1M 14°x10°
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀,擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸熱成像。它能夠測量熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導(dǎo)體的表面溫度。憑借熱測量能力和電動對焦功能,該熱像儀在工業(yè)環(huán)境中提供了可靠性和便利性,無需額外的硬件。它配備了以太網(wǎng)、USB 接口,以及模擬和數(shù)字過程接口,實現(xiàn)了與控制系統(tǒng)和機械設(shè)備的無縫集成。
工業(yè)以太網(wǎng)短波紅外熱像儀
寬測量范圍從 450°C 到 1800°C,無需子范圍
尺寸小且堅固,配備電動對焦
高動態(tài) CMOS 探測器,分辨率為 396 x 300 像素
運行,帶自動熱點查找和直接模擬或報警輸出,并具有多種現(xiàn)場總線通信選項
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀,在非接觸熱成像領(lǐng)域提供了創(chuàng)新、經(jīng)濟實惠和高精度的性能,專門用于測量具有挑戰(zhàn)性的物體表面溫度。設(shè)計在短波紅外范圍內(nèi)工作(波長:0.85 – 1.1 μm),這款前視紅外熱像儀專為捕捉熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導(dǎo)體的表面溫度分析而設(shè)計。為了滿足各行業(yè)的嚴格要求,Optris Xi 1M 提供了寬廣的高溫測量范圍、*的準確性和可定制的視場配置。
產(chǎn)品規(guī)格型號 | Xi1M 7°x5° | Xi1M 14°x10° | Xi1M 28°x21° | Xi1M 7°x5° CF |
探測器 |
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光學(xué)分辨率 |
全分辨率:396×300 像素(以太網(wǎng)); 子幀模式:132×100 像素(USB,模式); 線掃描:396×8 像素(以太網(wǎng)); 線掃描:396×1 像素(以太網(wǎng),模式) |
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像素間距 | 15 μm | |||
探測器 | CMOS | |||
光譜范圍 | 高溫測量: 0.85 – 1.1 μm | |||
光學(xué)濾鏡 | 無 | |||
幀率 | 20 Hz |
光學(xué) |
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視場角 | 7°x5° (396×300 像素) | 14°x10° (396×300 像素) | 28°x21° (396×300 像素) | 7°x5° CF (396×300 像素) |
焦距 [毫米] | 50 | 25 | 12 | 50 |
F值 | 2.8 | 1.8 | 2 | 2.8 |
光學(xué)分辨率 | 806:1 | 401:1 | 195:1 | 830:1 |
到目標的*小距離 | 800 mm | 300 mm | 300 mm | 500 mm |
可更換光學(xué)器件 | No |
許多由非光亮材料組成的測量物體在長波紅外光譜范圍內(nèi)顯示出較高且相對恒定的發(fā)射率,而這些材料在長波紅外波段的低發(fā)射率會導(dǎo)致測量結(jié)果的不穩(wěn)定和不可靠。短波 Xi 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的*發(fā)射率相匹配,從而簡化了遠程溫度測量。此外,根據(jù)普朗克輻射定律,在短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增加,因此線性發(fā)射率問題對短波溫度測量結(jié)果的重復(fù)性影響較小。因此,在考慮到較高的溫度測量范圍時,對高溫光亮材料的非接觸溫度測量應(yīng)盡可能使用短波段。