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涂層測厚儀可選附件-探頭

價格
電議

型號
涂層測厚儀探頭

品牌
時代

所在地
深圳市

更新時間
2023-11-20 10:02:40

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    涂層測厚儀可選附件-探頭

    F1探頭
    F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT260涂層測厚儀的標(biāo)配探頭。

    測頭型號 F1
    工作原理 磁感應(yīng)
    測量范圍(um) 0-1250
    低限分辨力(um) 0.1
    示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+1]
    兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[(1~3)%H+1]
    測量條件 小曲率半徑(mm) 凸1.5
    基體小面積的直徑(mm) ф7
    小臨界厚度(mm) 0.5
    探頭尺寸(mm) ф12X47

    N1探頭
    N1探頭是渦流法涂層測厚儀測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT260覆層測厚儀的標(biāo)配探頭。

    測頭型號 N1
    工作原理 電渦流
    測量范圍(um) 0-1250(銅上鍍鉻0-40um)
    低限分辨力(um) 0.1
    示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+1.5]
    兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[(1~3)%H+1.5]
    測量條件 小曲率半徑(mm) 3
    基體小面積的直徑(mm) ф5
    小臨界厚度(mm) 0.3
    探頭尺寸(mm) ф15X73

    F1/90探頭
    TT260覆層測厚儀選配F1/90探頭,主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細(xì)長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達(dá)的細(xì)管中。夾層和細(xì)縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。

    測頭型號 F1/90
    工作原理 磁感應(yīng)
    測量范圍(um) 0-1250
    低限分辨力(um) 0.1
    示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+1]
    兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[(1~3)%H+1]
    測量條件 小曲率半徑(mm) 平直
    基體小面積的直徑(mm) ф7
    小臨界厚度(mm) 0.5
    探頭尺寸(mm) 7.5X11X200

    F10探頭
    TT260涂鍍層測厚儀選配F10探頭,測量范圍由標(biāo)配的0-1250um擴(kuò)展至0-10000um,主要用于大厚度的涂層測量。
    選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片,用于校準(zhǔn)儀器。

    測頭型號 F10
    工作原理 磁感應(yīng)
    測量范圍(um) 0-10000
    低限分辨力(um) 10
    示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+10]
    兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[(1~3)%H+10]
    測量條件 小曲率半徑(mm) 10
    基體小面積的直徑(mm) ф40
    小臨界厚度(mm) 2
    探頭尺寸(mm) ф27X47

    F400探頭
    TT260涂鍍層測厚儀選配F400探頭,主要用于較薄厚度的涂層測量,可獲得更的測量結(jié)果和更高的重復(fù)性,
    另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時,F(xiàn)400探頭也是佳的選擇。

    測頭型號 F400
    工作原理 磁感應(yīng)
    測量范圍(um) 0-400
    低限分辨力(um) 0.1
    示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+1]
    兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[(1~3)%H+0.7]
    測量條件 小曲率半徑(mm) 凸 1
    基體小面積的直徑(mm) ф3
    小臨界厚度(mm) 0.2
    探頭尺寸(mm) ф12X55

    CN02探頭
    TT260漆膜測厚儀選配CN02探頭,主要用于測量線路板上的銅箔厚度,檢測范圍在10-200um之間。

    測頭型號 CN02
    工作原理 電渦流
    測量范圍(um) 10-200
    低限分辨力(um) 1
    示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%H+1]
    兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) -
    測量條件 小曲率半徑(mm) 平直
    基體小面積的直徑(mm) ф7
    小臨界厚度(mm) 無限制
    探頭尺寸(mm) ф16X67

     

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