廣州致遠(yuǎn)ZDL6000示波記錄儀

定制屬于你自己的測(cè)試平臺(tái)

ZDL6000示波記錄儀 功能特點(diǎn)介紹

精度是測(cè)試的基礎(chǔ)。無論采樣率的要求如何，ZDL6000 的示波板卡都能發(fā)揮計(jì)量級(jí)的測(cè)量精度。15M 采樣板

卡測(cè)量精度可達(dá)0.03%，非常適用于SiC、GaN 等新材料電力電子器件的測(cè)量。100M 采樣板卡測(cè)量精度依然

能夠做到0.3%，并*多可支持16 通道同步全隔離測(cè)量。

您可根據(jù)測(cè)試要求自由定制組合電信號(hào)采集、物理量采集、總線分析等多種板卡。所有通道信號(hào)均可實(shí)現(xiàn)同步

測(cè)量，并支持?jǐn)?shù)據(jù)回讀、二次處理和信號(hào)輸出。測(cè)試控制支持腳本語言，文件存儲(chǔ)支持matlab、labview 等標(biāo)準(zhǔn)格式，便于對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行二次開發(fā)，*終完成閉環(huán)測(cè)試分析。

示波記錄儀將示波器的高采樣率和記錄儀的長期記錄功能融為一體。在記錄模式下準(zhǔn)確把握信號(hào)變化趨勢(shì)，*

長可記錄2TB 數(shù)據(jù)，在示波模式下又能以高分辨率捕獲波形細(xì)節(jié)，對(duì)異常瞬間進(jìn)行完整分析，*滿足在不同場(chǎng)景下的定制測(cè)試需求。

計(jì)量級(jí)板卡精度

只有足夠高的測(cè)試精度，才能滿足復(fù)雜場(chǎng)景下的測(cè)試要求。ZDL6000的示波板卡測(cè)量精度*可達(dá)0.03%，非常適用于SiC、GaN等新材料電力電子器件的測(cè)量，同時(shí)可以作為標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的計(jì)量檢測(cè)依據(jù)。

輸入通道之間全隔離測(cè)量

每臺(tái)示波記錄儀標(biāo)配8個(gè)板卡卡槽，各輸入通道之間相互絕緣隔離，可*確保在強(qiáng)干擾、多參考電壓等復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)試。

多種信號(hào)自由搭配

示波記錄儀可以提供電壓、電流、CAN、溫度…等多種輸入板卡，通道*多可達(dá)128CH。用戶可根據(jù)具體的測(cè)試需求自由組合電信號(hào)和物理信號(hào)，滿足各種場(chǎng)景下的測(cè)試需求。

所有通道同步測(cè)試

示波記錄儀內(nèi)部設(shè)有高穩(wěn)定性溫度補(bǔ)償?shù)?00MHz同步時(shí)鐘，避免了溫度帶來時(shí)鐘漂移所引入的測(cè)量誤差。同時(shí)也保證了每一個(gè)通道ADC的采樣相位同步，減少了測(cè)量時(shí)通道間相位角所引入的誤差，誤差在3ns以內(nèi)，保證所有通道信號(hào)同步測(cè)試。

2Gpts大容量?jī)?nèi)存波形存儲(chǔ)

在示波模式下，實(shí)時(shí)波形存儲(chǔ)深度高達(dá)2Gpts，配合*可達(dá)100MS/s采樣率的板卡，非常適合長時(shí)間的波形采集。如果8個(gè)卡槽全部選配，可輕松實(shí)現(xiàn)16通道隔離示波器功能。

*2T固態(tài)硬盤存儲(chǔ)

在記錄模式下，示波記錄儀*可選配2T固態(tài)硬盤實(shí)時(shí)存儲(chǔ)，實(shí)時(shí)記錄采樣率可達(dá)1MSa/s，用作測(cè)量平臺(tái)時(shí)，耐久性測(cè)試的數(shù)據(jù)記錄時(shí)間可長達(dá)500天。

雙捕獲模式

長時(shí)間的趨勢(shì)數(shù)據(jù)通常采用低采樣率采集趨勢(shì)數(shù)據(jù)，但突發(fā)的高度瞬態(tài)異常信號(hào)需要采用高采樣率捕捉。通過雙捕獲功能，可以同時(shí)設(shè)置兩個(gè)不同的采樣率來滿足數(shù)據(jù)捕獲要求。在波形處于正常狀態(tài)時(shí)，保持低采樣率記錄波形變化趨勢(shì)，一旦波形滿足觸發(fā)條件，示波記錄儀將立即切換到*100MS/s的速度記錄高速瞬態(tài)事件。

ZDL6000 電源與通訊接口

電源接口

通訊接口

ZDL6000示波記錄儀 主要技術(shù)參數(shù)

ZDL6000示波記錄儀 100M卡 主要技術(shù)參數(shù)