天水市旋光儀校驗(yàn)檢測(cè)中心-2022已更新

精衡檢測(cè)長(zhǎng)度實(shí)驗(yàn)室主要負(fù)責(zé)長(zhǎng)度計(jì)量工作，擁有豐富*工作經(jīng)驗(yàn)、良好職業(yè)技能、敬業(yè)愛崗的計(jì)量人員。長(zhǎng)度室配備了國(guó)內(nèi)*的測(cè)長(zhǎng)機(jī)、大型工具顯微鏡、二次元、接觸式干涉儀、金屬線紋尺、光柵式水平儀器，直角尺儀、標(biāo)準(zhǔn)環(huán)規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)球、標(biāo)準(zhǔn)圓柱角尺、標(biāo)準(zhǔn)多面棱體、電腦系統(tǒng)水平儀、百分表千分表儀、大尺寸量塊、量塊快速檢測(cè)儀、標(biāo)準(zhǔn)半球等各種儀器計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)儀器百余種。

可提供儀器校準(zhǔn)、儀器校正、儀器計(jì)量及維修服務(wù)的儀器設(shè)備種類有:

通用量具類:
卡尺類、指示表類、千分尺類、角度規(guī)、水平儀、測(cè)厚儀、比較儀等。

測(cè)繪儀器類:
工程質(zhì)量檢測(cè)尺、水準(zhǔn)尺、經(jīng)緯儀、建筑工程標(biāo)準(zhǔn)器等。

精測(cè)量?jī)x類:
激光孔徑儀、光學(xué)計(jì)、投影儀、測(cè)長(zhǎng)儀、顯微鏡、影像測(cè)量?jī)x、二次元、接觸式干涉儀、圓度儀、坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM、三次元)、數(shù)控機(jī)床、加工中心的檢測(cè)等。

量塊量規(guī):
四等及以下量塊、步距規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)針規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)環(huán)規(guī)、光滑極限量規(guī)、半徑樣板、螺紋樣板等。

線紋:
玻璃線紋尺、各種帶標(biāo)尺放大鏡、鋼直尺、鋼卷尺、塑膠皮尺等。

平面度:
水平儀、平板、平尺、平晶等。

粗糙度:
粗糙度比較樣塊、粗糙度參數(shù)測(cè)試等。

螺紋類:
各類公制(M)、美標(biāo)(UN)、日標(biāo)(J1S )、管螺紋(G)等螺紋規(guī)的檢測(cè)。

玩具輕工檢測(cè)類:
小物件測(cè)試圓筒、搖鈴測(cè)試儀、曲繞測(cè)試儀、利邊測(cè)試儀、尖點(diǎn)測(cè)試器、奶嘴測(cè)試器、拉力鉗、壓力頭、測(cè)試手指等各種測(cè)試器。鞋業(yè)、紡織、自行車、模具、機(jī)加工琴部件等空間高精度尺寸的測(cè)量等。

概述

特點(diǎn)：符合阿貝原理、精度高、使用方便。
阿貝原理：被測(cè)量線應(yīng)與測(cè)量線相重合或在其延長(zhǎng)線上。
外徑千分尺的分度值一般為0.01mm和0.001mm，移動(dòng)量為25mm。
有測(cè)力裝置，保持恒定的測(cè)量力。
分類和結(jié)構(gòu)

數(shù)顯外徑千分尺

工作原理

運(yùn)用螺旋副傳動(dòng)原理，借助測(cè)微螺桿與螺母配合，將螺桿的回轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)變?yōu)橹本€運(yùn)動(dòng)，從固定套管和微分筒上讀出長(zhǎng)度尺寸。

讀數(shù)

讀數(shù)原理：微分筒讀數(shù)以固定套管的縱刻線為基準(zhǔn)線，縱刻線上下有50個(gè)分度，每個(gè)分度為0.5mm。微分筒圓周刻有50個(gè)等分,測(cè)微螺桿的螺距為0.5mm, 微分筒旋轉(zhuǎn)一周。微分螺桿移動(dòng)0.5mm，微分筒旋轉(zhuǎn)一個(gè)分度時(shí)（1/50轉(zhuǎn)）測(cè)微螺桿移動(dòng)0.01mm。

校準(zhǔn)和技術(shù)要求

按現(xiàn)行有效版本JJG21-2008
主要校準(zhǔn)設(shè)備
3、4等量塊（量塊）

平面平晶、平行平晶、刀口尺

測(cè)力儀
1、外觀和各部分相互作用：目力觀察和手動(dòng)試驗(yàn)

2、測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)：手感檢查

必要時(shí)使用杠桿千分尺檢查（ 要求≤0.01mm）

3、測(cè)力：用分度值不大于0.2N的測(cè)力計(jì)

測(cè)力應(yīng)為（5～10）N

4、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離：

用0.4mm的塞尺置于固定套管上比較測(cè)量（ ≤ 0.4mm ）

5、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對(duì)距離：

當(dāng)測(cè)量下限調(diào)整正確后，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱 向刻線右邊緣的偏移量

要求：壓線≤0.05mm 離線≤0.1mm

6、測(cè)量面的平面度：用平面平晶以技術(shù)光波干涉法

對(duì)于后續(xù)校準(zhǔn)的可用刀口尺以光隙法

要求: 外徑千分尺 ≤0.6um

壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um

數(shù)顯外徑千分尺≤0.3um

7、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復(fù)性：

在相同條件下重復(fù)測(cè)量5次分別讀數(shù)，以*與*小讀數(shù)差確定

要求： ≤1um

8、兩測(cè)量面的平行度：測(cè)量上限至100mm用平行平晶檢查，或可用量塊檢查。

采用量塊時(shí)，其4塊尺寸差為1/4螺距，每個(gè)量塊以其同一部位放入下圖所示的測(cè)量面間的4個(gè)位置上分別讀數(shù)，以四組差值中*值來確定。

千分尺示值的*允許誤差及兩測(cè)量面的平行度

9、示值誤差：

外徑（壁厚、板厚）用5等量塊，數(shù)顯用4等量塊校準(zhǔn)，或用千分尺量塊。

在測(cè)量范圍內(nèi)均勻分布5點(diǎn)放入量塊直接測(cè)量。

(A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00)

A—測(cè)量下限值

示值誤差要求見上表

10、數(shù)顯千分尺的細(xì)分誤差：在任意位置上，沿測(cè)量方向轉(zhuǎn)動(dòng)微分筒，每間隔0.04mm檢查一次，共計(jì)12次，分別讀出各受檢點(diǎn)數(shù)顯值與微分筒讀數(shù)值之差，以其*差值確定。

要求≤±2um

11、校對(duì)用量桿（尺寸及變動(dòng)量）:

外徑：在光學(xué)計(jì)或測(cè)長(zhǎng)機(jī)上用4等量塊以比較法

數(shù)顯：在光學(xué)計(jì)或測(cè)長(zhǎng)機(jī)上用3等量塊以比較法

變動(dòng)量：如圖所示5點(diǎn)中*與*小尺寸之差

千分尺校對(duì)用量桿的尺寸偏差和變動(dòng)量

正確使用和注意事項(xiàng)

測(cè)量前應(yīng)將測(cè)量面及被測(cè)件擦試干凈，等溫2H（20℃±5）
千分尺的零位調(diào)整
千分尺兩測(cè)量面與量塊接觸時(shí)，要使用測(cè)力裝置，不要轉(zhuǎn)動(dòng)微分筒，以測(cè)力裝置的棘輪斷續(xù)響3聲讀數(shù)為準(zhǔn)zppjzjc465