名稱: 智能導波雷達物位計 型號: ALTF53 ALTF 系列智能導波雷達物位計適用于各種過程條件復雜的容器、儲罐、倉料等,且不受被測介質(zhì)物理特性變化影響的外部測量,兩線制技術ALTF50 導波雷達物位計 系列可用于連續(xù)測量液體及固體粉料、粒料及液體的物位 纜式探頭:主要用于測量液體及固體料位,大測量距離 35 米 桿式探頭:主要用于液體 同軸桿式探頭:用于液體 可向系統(tǒng)提供以下信號接口: HART , 4…20Ma ; PROFIBUS-PA ;基金現(xiàn)場總線 導波雷達物位計ALTF53
應 用:液體,界位測量范圍: 6 m過程連接:法蘭 過程溫度: -40...350 ℃ 過程壓力:-1.0...60bar精 度:±1mm頻率范圍:10GHZ防爆等級:EXiaIICT6/IP68信號輸出: 4-20mA/HART 兩線Profibus PA導波雷達物位計ALTF53 特性與優(yōu)勢: 測量不受下列因素影響: -液體密度,固體物料的疏松程度 -溫度 -加料時的粉塵 液體表面的泡沫對測量無影響 導波雷達物位計ALTF53 的探頭測量完全不受罐體及安裝短管的內(nèi)部結構的影響 探桿和探纜可更換 HART 或 PROFIBUS-PA 通信協(xié)議及基金會現(xiàn)場總線協(xié)議,簡便、通過數(shù)字液晶顯示輕松實現(xiàn)現(xiàn)場操作,通過軟件 GDPF 實現(xiàn)簡單的組態(tài)設定和編程
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名稱: 智能導波雷達物位計
型號: ALTF53 ALTF 系列智能導波雷達物位計適用于各種過程條件復雜的容器、儲罐、倉料等,且不受被測介質(zhì)物理特性變化影響的外部測量,兩線制技術
ALTF50 導波雷達物位計 系列可用于連續(xù)測量液體及固體粉料、粒料及液體的物位
纜式探頭:主要用于測量液體及固體料位,大測量距離 35 米
桿式探頭:主要用于液體
同軸桿式探頭:用于液體
可向系統(tǒng)提供以下信號接口: HART , 4…20Ma ; PROFIBUS-PA ;基金現(xiàn)場總線
導波雷達物位計ALTF53
應 用:液體,界位
測量范圍: 6 m
過程連接:法蘭
過程溫度: -40...350 ℃
過程壓力:-1.0...60bar
精 度:±1mm
頻率范圍:10GHZ
防爆等級:EXiaIICT6/IP68
信號輸出: 4-20mA/HART 兩線Profibus PA
導波雷達物位計ALTF53 特性與優(yōu)勢: 測量不受下列因素影響:
-液體密度,固體物料的疏松程度
-溫度
-加料時的粉塵 液體表面的泡沫對測量無影響 導波雷達物位計ALTF53 的探頭測量完全不受罐體及安裝短管的內(nèi)部結構的影響 探桿和探纜可更換 HART 或 PROFIBUS-PA 通信協(xié)議及基金會現(xiàn)場總線協(xié)議,簡便、通過數(shù)字液晶顯示輕松實現(xiàn)現(xiàn)場操作,通過軟件 GDPF 實現(xiàn)簡單的組態(tài)設定和編程